в корзине0 шт.
Категории:




Товары
Микроскопические методы исследования материалов Серия: Мир электроники инфо 4515e.
Микроскопические методы исследования материалов Серия: Мир электроники инфо 4515e.

Переводчик: С Баженов За последние десятилетия в области материаловедения был совершен огромный скачок вперед Одновременно очень быстро развивались и оптические методы исследования материалов В компаьъсбьютерной микроскопии произошли столь значительные изменения, что появилась потребность в книге, описывающей возможности новейших оптических микроскопов, используемых для исследования конструкционных материалов В книге рассматриваются основы оптической микроскопии, опиблгвысываются методы оптических исследований, как классические (методы темного поля и интерференционная микроскопия), так и новейшие, а также неоптические - например, акустические и рентгеновские Рассматривается построение двумерного изображения на основе трехмерного массива данных и методы преобразования цифрового изображения на компьютере, изучается работа конфокального лазерного сканирующего микроскопа, приводятся примеры трехмерной реконструкции структуры композитов Книга будет полебсгышзна ученым, специалистам в области материаловедения, аспирантам Авторы Колин Н Эберхардт C N Eberhardt Эшли Р Кларк A R Clark.




Цена: 80 руб.